四国計測工業株式会社

2012/4/23 「創意工夫功労者表彰(文部科学省)」　2件受賞

① 「スイッチング電源のユニット化による保守性の改善」秋山　昌弘　氏被表彰者は半導体検査装置で使用しているスイッチング電源のメーカ保守打ち切りに際し、形状の異なる代替電源を用い工夫することで、保守...続きはこちら
2012/3/12 「マイクロ波を用いた工業用化学合成装置の開発」が産業振興貢献賞を受賞

「マイクロ波を用いた工業用化学合成装置の開発」が産業振興貢献賞を受賞マイクロ波反応装置開発プロジェクト・研究開発部において開発し、平成２１年１０月に健康食品製造メーカ（株）GLART殿に納入したマイク...続きはこちら
2011/12/9 セミコンジャパン２０１１にパワーデバイステスト関連商品を出展いたしました。

会期中は、多数の来場を賜り、ありがとうございました。期間　　　２０１１年１２月７日（水）～９日（金）会場　　　幕張メッセ来場者数　６３，０６０人（ｓｅｍｉ発表）出展製品パワー半導体用静特性試験...続きはこちら
2011/11/20 INCHEM TOKYO 2011プラントショーに出展致しました。

会期中は、多数のご来場を賜りありがとうございました。出展製品のご紹介工業用マイクロ波反応装置お問い合わせ四国計測工業株式会社　製造事業本部　善通寺工場　マイクロ波反応装置開発プロジェクト担当 ...続きはこちら
2011/10/8 2011東京国際包装展に出展いたします。

ご挨拶拝啓貴社ますますご清祥のこととお慶び申し上げます。さて、弊社は来る10月18日(火)～21(金)の4日間、東京ビックサイトにおいて開催される『JAPAN PACK 2011』に「ヒートシール検査装置」の出展をいたし...続きはこちら

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