パワーデバイスDC静特性試験装置 YPシリーズ
パワーMOSFET、IGBT、FET、ダイオードなどの高耐圧パワーデバイスのDC特性試験装置です。
YP3200
1素子測定に特化することで、装置全体の小型化を実現しました。
バイアス電源の性能向上と微少電流測定の向上により、テスト時間を大幅に短縮しました。
仕様
測定デバイス | IGBT、ダイオードなど |
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高電圧・大電流部 | 3000V/300A 0~3000V (10mA max.) 0~300A (20V max.) |
バイアス電源 | 100V/2A |
測定項目 | ・コレクタ-エミッタ間電圧 ・コレクタ-エミッタ間飽和電圧 ・ゲート-エミッタ間漏れ電流 ・ゲート-エミッタ間電圧 ・ダイオード逆電圧/電流 ・順方向電圧 ・しきい値電圧 など |
YP3000
最大出力電圧3000V、最大出力電流1200Aとワイドな範囲の測定を実現しました。
仕様
測定デバイス | IPM/IGBTなど |
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高電圧・大電流部 | 3000V/1200A 0~3000V (10mA max.) 0~1200A (20V max.) |
バイアス電源 | 50V/1mA 3系統 |
測定項目 | ・コレクタ-エミッタ間遮断電流 ・コレクタ-エミッタ間降状電圧 ・コレクタ-エミッタ間飽和電圧 ・ダイオード順方向電圧 ・ゲートリーク電流 ・ゲートスレショルド電圧 など |
YP1000
インテリジェントパワーモジュール測定に特化した試験装置です。
半導体リレーの採用により装置の長寿命化を実現しました。
仕様
測定デバイス | IPM(1~7素子) |
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高電圧・大電流部 | 1400V/100A 0~1400V (20mA max.) 0~100A (10V max.) |
制御電源 | 40V/500mA 11系統 |
お問い合わせ
製造事業本部 電力事業部 電子応用システム部
TEL 0877-63-2500